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日置HIOKI LCR测试仪IM3523A 40 Hz〜200 kHz 测量时间 : 2 ms 用于生产线和自动化测试领域

LCR测试仪IM3523A40 Hz〜200 kHz 测量时间 : 2 ms用于生产线和自动化测试领域● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)● 在比如C-D(120 Hz)和ESR(100 kHz)这样的混合测量条件下,整体测量速度提升至约原来的10倍(与旧机型3532 - 50相比)。●搭载比较器和BIN测量(分类功能)● 可进

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产品描述

LCR测试仪IM3523A


40 Hz〜200 kHz 测量时间 : 2 ms
用于生产线和自动化测试领域

● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
● 在比如C-D(120 Hz)和ESR(100 kHz)这样的混合测量条件下,整体测量速度提升至约原来的10倍(与旧机型3532 - 50相比)。
● 搭载比较器和BIN测量(分类功能)

● 可进行测量时间为2msec的高速测量

基本参数(精度保证期1年)

测量模式LCR模式:单一条件测量

连续测量模式:通过已保存的条件进行连续测量

测量参数Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc (DC电阻), Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ)
测量量程100mΩ~100MΩ,10档量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp :

± (0.00000 [单位]〜9.99999G [单位]) Z和Y为绝对值显示

θ: ± (0.000°〜180.000°), D: ± (0.00000〜9.99999)

Q: ± (0.00〜99999.9), Δ%: ± (0.0000%〜999.999%)
基本精度Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率40Hz ~200kHz (设置分辨率:5 位分辨率)
测量信号等级

V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms步进 

CC模式: 10μA~50mArms,10μArms步进

输出阻抗常规模式:100Ω
显示单色LCD
测量时间2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能比较器,分类测量(BIN功能),面板锁定/保存、存储功能
接口EXT I/O(处理器),USB通讯,LAN
电源AC 100〜240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
尺寸及重量260W × 88H × 203D mm, 2.1 kg
附件电源线×1,启动指南×1,使用注意事项×1,LCR应用程序光盘×1


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