日置HIOKI 阻抗分析仪IM3570 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查测量|Z|、L、C、R 测量频率4Hz~5MHz 测量时间：0.5ms 同时进行扫频测量和LCR测量

阻抗分析仪IM35701台仪器实现不同测量条件下的高速检查测量|Z|、L、C、R 测量频率4Hz~5MHz 测量时间：0.5ms 同时进行扫频测量和LCR测量● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量● 基本精度±0.08%的高精度测量● 适用于压电元件的共振特性

销售热线：400 892 1718

购买咨询资料下载

产品描述

阻抗分析仪IM3570

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

测量|Z|、L、C、R 测量频率4Hz~5MHz 测量时间：0.5ms 同时进行扫频测量和LCR测量

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
● 搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量

主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。

基本参数

测量模式	LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量
测量参数	Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
测量量程	100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）
显示范围	Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示绝对值 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度	Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
测量频率	4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）
测量信号电平	V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）
输出阻抗	普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
显示	彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF
测量时间	0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）
测量速度	FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能	DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能
接口	EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN
电源	AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
打印	拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
接口	GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)
电源	AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
体积和重量	330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件	电源线×1，使用说明书×1